日本マーテック株式会社の中途採用・転職・求人情報

分析エンジニア職として、二次イオン質量分析法（SIMS）を使用した半導体や電子材料の解析業務や顧客との打ち合わせ、顧客との立ち合い観察などの業務をご担当いただきます。

■技術エンジニア職として、前処理工程または電子顕微鏡（FIB/TEM）を使用した半導体や電子材料の解析業務や顧客との打ち合わせ、顧客との立ち合い観察などの業務をお任せいたします

半導体を中心とした分析受託業務を行う当社にて、検査品の受入などのカスタマーサービスと生産管理の業務をご担当いただきます。未経験でも問題なく活躍できる職場です。

材料分析、構造分析、表面分析等を提供する当社のTEM分析エンジニアとして、TEM（透過電子顕微鏡）を使用した半導体や電子材料の解析業務や顧客との打ち合わせ、顧客との立ち合い観察などをご担当いただきます。

主にトラブル対応をご担当いただきます。電子顕微鏡（FIB、TEM）どこに不具合箇所があるのかを調査し、それに応じた部品の調整・修理・交換をお任せいたします。

分析エンジニア職として、電子顕微鏡（FIB・TEM）を使用した半導体や電子材料の解析業務や顧客との打ち合わせ、顧客との立ち合い観察などの業務をご担当いただきます。

分析エンジニア職として、電子顕微鏡（FIB・TEM）を使用した半導体や電子材料の解析業務や顧客との打ち合わせ、顧客との立ち合い観察などの業務をお任せいたします。

■分析エンジニア職として、電子顕微鏡（TEM）を使用した半導体や電子材料の解析業務や顧客との打ち合わせ、顧客との立ち合い観察などの業務をお任せいたします。採用背景：業績好調による増員補強

技術エンジニア職として、電子顕微鏡を使用した半導体や電子材料の解析業務や顧客との打ち合わせ、顧客との立ち合い観察などの業務をご担当いただきます。

■分析エンジニア職として、電子顕微鏡（FIB）を使用した半導体や電子材料の解析業務や顧客との打ち合わせ、顧客との立ち合い観察などの業務をお任せいたします。採用背景：業績好調による増員補強

半導体の材料・構造分析を行う当社にて、総務・庶務業務を担っていただきます。業界職種未経験でも問題ございません。総務職として活躍したい方ご応募ください。

■分析エンジニア部署のテクニカルアドバイザーとして、電子顕微鏡（FIB＆TEM）を使用した半導体や電子材料の解析業務の顧客提案・社内調整をお任せいたします。

故障分析エンジニアとして、お客様の製品に対するPFA/EFA解析を通じて、IC／部品の故障の根本原因を特定いただきます。